Perbezaan antara TEM dan SEM

TEM vs Sem

Kedua -dua SEM (pengimbasan mikroskop/mikroskopi elektron) dan TEM (mikroskop elektron penghantaran/mikroskopi) merujuk kedua -dua instrumen dan kaedah yang digunakan dalam mikroskopi elektron.

Terdapat pelbagai persamaan antara kedua -dua. Kedua -duanya adalah jenis mikroskop elektron dan memberi kemungkinan melihat, mengkaji, dan memeriksa zarah kecil atau subatomik atau komposisi sampel. Kedua -duanya juga menggunakan elektron (khususnya, rasuk elektron), caj negatif atom. Juga, kedua -dua sampel yang digunakan dikehendaki "bernoda" atau dicampur dengan elemen tertentu untuk menghasilkan imej. Imej yang dihasilkan dari instrumen ini sangat diperbesarkan dan mempunyai resolusi tinggi.

Walau bagaimanapun, SEM dan TEM juga berkongsi beberapa perbezaan. Kaedah yang digunakan dalam SEM adalah berdasarkan elektron yang bertaburan manakala TEM didasarkan pada elektron yang dihantar. Elektron yang bertaburan di SEM diklasifikasikan sebagai elektron belakang atau sekunder. Walau bagaimanapun, tidak ada klasifikasi elektron lain dalam TEM.

Elektron yang bertaburan di SEM menghasilkan imej sampel selepas mikroskop mengumpul dan mengira elektron yang bertaburan. Di TEM, elektron secara langsung menunjuk ke sampel. Elektron yang melalui sampel adalah bahagian -bahagian yang diterangi dalam gambar.
Tumpuan analisis juga berbeza. SEM memberi tumpuan kepada permukaan sampel dan komposisinya. Sebaliknya, TEM berusaha melihat apa yang ada di dalam atau di luar permukaan. SEM juga menunjukkan sampel sedikit demi sedikit manakala TEM menunjukkan sampel secara keseluruhan. SEM juga menyediakan imej tiga dimensi sementara TEM menyampaikan gambar dua dimensi.

Dari segi pembesaran dan resolusi, TEM mempunyai kelebihan berbanding SEM. TEM mempunyai tahap pembesaran 50 juta sementara SEM hanya menawarkan 2 juta sebagai tahap pembesaran maksimum. Resolusi TEM adalah 0.5 angstroms manakala SEM mempunyai 0.4 nanometer. Walau bagaimanapun, imej SEM mempunyai medan kedalaman yang lebih baik berbanding dengan TEM yang dihasilkan imej.
Satu lagi titik perbezaan ialah ketebalan sampel, "pewarnaan," dan persediaan. Sampel dalam TEM dipotong lebih nipis berbanding dengan sampel SEM. Di samping itu, sampel SEM adalah "bernoda" oleh elemen yang menangkap elektron yang bertaburan.

Dalam SEM, sampel disediakan pada stub aluminium khusus dan diletakkan di bahagian bawah ruang instrumen. Imej sampel diproyeksikan ke skrin seperti CRT atau televisyen.
Sebaliknya, TEM memerlukan sampel untuk disediakan dalam grid TEM dan diletakkan di tengah -tengah ruang khusus mikroskop. Imej dihasilkan oleh mikroskop melalui skrin pendarfluor.

Satu lagi ciri SEM ialah kawasan di mana sampel diletakkan boleh diputar dalam sudut yang berbeza.
TEM dibangunkan lebih awal daripada SEM. TEM dicipta oleh Max Knoll dan Ernst Ruska pada tahun 1931. Sementara itu, SEM dicipta pada tahun 1942. Ia dibangunkan pada masa akan datang kerana kerumitan proses pengimbasan mesin.

Ringkasan:

1.Kedua -dua SEM dan TEM adalah dua jenis mikroskop elektron dan alat untuk melihat dan memeriksa sampel kecil. Kedua -dua instrumen menggunakan elektron atau rasuk elektron. Imej -imej yang dihasilkan dalam kedua -dua alat sangat diperbesarkan dan menawarkan resolusi tinggi.
2.Bagaimana setiap mikroskop berfungsi sangat berbeza dari yang lain. SEM mengimbas permukaan sampel dengan melepaskan elektron dan membuat elektron melantun atau menyebarkan kesan. Mesin mengumpul elektron yang bertaburan dan menghasilkan gambar. Imej divisualisasikan pada skrin seperti televisyen. Sebaliknya, TEM memproses sampel dengan mengarahkan rasuk elektron melalui sampel. Hasilnya dilihat menggunakan skrin pendarfluor.
3.Imej juga merupakan titik perbezaan antara dua alat. Imej SEM adalah tiga dimensi dan perwakilan yang tepat manakala gambar TEM adalah dua dimensi dan mungkin memerlukan sedikit tafsiran. Dari segi resolusi dan pembesaran, TEM memperoleh lebih banyak kelebihan berbanding dengan SEM.